<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">kemsu</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">СибСкрипт</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>SibScript</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2949-2122</issn><issn pub-type="epub">2949-2092</issn><publisher><publisher-name>Kemerovo State University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">kemsu-306</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Физика</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>PHYSICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КОНТАКТОВ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ НА ОСНОВЕ IRSİ – Sİ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>ELECTROPHYSICAL PROPERTIES OF CONTACTS WITH IRSI – SI SCHOTTKY BARRIER</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Керимов</surname><given-names>Эльчин Ахмед оглы</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kerimov</surname><given-names>E. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="en"><p>Elchin A. Kerimov – Candidate of Physics and Mathematics, Associate Professor, Head of the Department</p></bio><email xlink:type="simple">E_Kerimov.fizik@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Национальное Аэрокосмическое Агентство Азербайджана</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>National Aerospace Agency of Azerbaijan</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>28</day><month>02</month><year>2016</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3-1</issue><fpage>165</fpage><lpage>169</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Керимов Э.А., 2013</copyright-statement><copyright-year>2013</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Керимов Э.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Kerimov E.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.sibscript.ru/jour/article/view/306">https://www.sibscript.ru/jour/article/view/306</self-uri><abstract><p>Основная цель работы исследование особенностей роста силицида иридия и методика изготовления фоточувствительных элементов на основе силицида иридия – кремния. Изучены поверхности IrSi – n – Si и IrSi – р – Si полученные магнетронным распылением.Обнаружено, что на поверхности IrSi, полученных магнетронным распылением, в атмосфере N2 наблюдается отверстия, такие же дефекты наблюдается в IrSi, полученных методом термического испарения в вакууме. Уменьшение размеров дефектов при отжиге в смеси газов N2 + H2 + O2 объясняется тем, что иридий разлагает нейтральные атомы водорода, которые в свою очередь взаимодействуют с адсорбированным кислородом и при повышении температуры либо десорбируют, либо вытесняются на поверхность кремния.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Holes in N2 atmosphere were detected on the IrSi surface, obtained by magnetron spraying, the same defects are observed in IrSi, obtained by method of thermal evaporation in vacuum. The decrease in defects size by annealing in a N2 + H2 + O2 gas mixture is due to iridium decomposing the neutral hydrogen atoms, which in turn interact with the adsorbed oxygen, and are further desorbed or replaced to the silicon surface by temperature increasing.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>Барьер Шоттки</kwd><kwd>силицид иридия</kwd><kwd>геометрический шум</kwd><kwd>фоточувствительность</kwd><kwd>Шоттки – матрицы</kwd><kwd>отжиг</kwd><kwd>диодные структуры</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>Schottky barrier</kwd><kwd>iridium silicide</kwd><kwd>geometric noise</kwd><kwd>photosensitivity</kwd><kwd>Schottky – matrixes</kwd><kwd>annealing</kwd><kwd>diode structures</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мюрарка, Ш. Силициды для СБИС / Ш. Мюрарка. – М.: Мир, 1986. – С. 136 – 137.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мюрарка, Ш. Силициды для СБИС / Ш. Мюрарка. – М.: Мир, 1986. – С. 136 – 137.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тришенков, М. А. Фотоприемные устройства и ПЗС / М. А. Тришенков. – М.: Радио и связь, 1992. – 400 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Тришенков, М. А. Фотоприемные устройства и ПЗС / М. А. Тришенков. – М.: Радио и связь, 1992. – 400 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Elliott, С. T. Future infrared detector technologies / С. Т. Elliott // Fourth Int. Conf. on Advanced Infrared Detectors and Systems. – 1990. – P. 61 – 66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Elliott, С. T. Future infrared detector technologies / С. Т. Elliott // Fourth Int. Conf. on Advanced Infrared Detectors and Systems. – 1990. – P. 61 – 66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Byrne, C. F. Infrared photodiodes formed in mercury cadmium telluride grown by MOCVD / C. F. Byrne, P. Knowles // Semicond. Sci. Technol. – 1988. – № 3. – P. 377 – 381.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Byrne, C. F. Infrared photodiodes formed in mercury cadmium telluride grown by MOCVD / C. F. Byrne, P. Knowles // Semicond. Sci. Technol. – 1988. – № 3. – P. 377 – 381.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
